芯片尺寸检测系统方案 ---晶新科技
芯片尺寸检测系统方案 ---晶新科技深圳市晶新科技2015年研发的关于芯片尺寸检测，取得了重大的科技创新。
如下详解：
一：芯片尺寸检测系统描述
芯片尺寸检测系统对芯片的各部分位置尺寸进行检测。芯片尺寸检测系统简单设定后，即可自动检测、计算，如有异常发生，可提示报警或者控制机器停机。对不符合要求的工件检测后可输出NG信号。
二 ：芯片尺寸检测系统描述主要功能：
- 检测芯片的尺寸
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2.输出每个检测项的数值；
3.可选择检测项；
4.连续作业，自动判别；
5.检测精度可调；
6.视觉检测速度200ms/pcs;
7.将检测到的数据存入EXCLE档中，保存统计数据方便数据处理和打印，并可对NG产品的图像进行保存方便查看；
8.系统有自学习功能，且学习过程操作简单；
9.系统界面上提示报警灯，出现NG产品报警灯提示；
10.系统界面上提示脚长不合格的pin脚位； -
三：芯片尺寸检测系统主要技术特点
- 操作界面清晰明了，简单易行，只需简单设定即可自动执行测量；
- 测量软件及算法完全自主开发，系统针对性强；
- 可灵活设置检测模板、检测范围；可选择局部检测功能，提高测量速度；
- 专业化光源设计，成像清晰均匀，确保测量任务完成；
- 支持多种型号产品的测量、具备产品在线自动搜索等功能；
- 采用高速工业相机，适用于静态或动态生产线检测；
- 安装简单，不影响原生产线工作；结构紧凑，易于操作、维护和扩充；可靠性高，运行稳定，适合各种现场运行条件；
- 基于PC平台，系统可扩充性强，基于EF-VS机器视觉软件平台可扩展其他功能。
